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SoC设计与测试
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ISBN/ISSN：7-81077-308-9
价格：CNY35.00
出版：北京 北京航空航天大学出版社 ,2003.8
载体形态：210页 图 ;26cm
简介：本书分为设计和测试两部分，分别介绍SoC的设计方法和测试方法，在设计部分，介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计和需要注意的问题。
附注：读者对象：ASIC设计工程师及系统设计工程师
并列题名：System-on-a-chip : design and test
中图分类号：TP368.1
责任者：雷斯曼 ,R. 著 Rajsuman ,Rochit 著 于敦山 译 盛世敏 译 田泽 译
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| 分馆名 | 馆藏部门 | 图书条码 | 索书号 | 登录号 | 卷期 | 状态 |
| A | 自然科学书库（雁塔校区图书馆4层） | 01351381 | TP368.1/125 | 01351381 | 在架可借 | |
| A | 计算机/自动化 图书借阅空间（长安校区图书馆2楼） | 01351382 | TP368.1/125 | 01351382 | 在架可借 | |
| A | 计算机/自动化 图书借阅空间（长安校区图书馆2楼） | 01351383 | TP368.1/125 | 01351383 | 在架可借 |
| 序号 | 图书条码 | 索书号 | 登录号 | 藏书部门 | 流通状态 | 年卷期 | 装订册 | 装订方式 | 装订颜色 |
| 类型 | 说明 | URL |
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