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光电子器件微波封装和测试
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ISBN/ISSN：978-7-03-019198-4
价格：CNY48.00
出版：北京 科学出版社 ,2007.7
载体形态：292页 图 ;24cm
丛编：半导体科学与技术丛书
简介：本书总结了作者多年来的工作经验和近期研究成果，系统地介绍了高速光电子器件测试和微波封装设计方面的实用技术。
并列题名：Microwave Desing and Characterization of Optoelectronics Devices and Packaging
中图分类号：TN206
责任者：祝宁华 著
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| 分馆名 | 馆藏部门 | 图书条码 | 索书号 | 登录号 | 卷期 | 状态 |
| A | 通信/电子/网络安全 图书借阅空间（长安校区图书馆2楼） | 03160771 | TN206/5 | 03160771 | 在架可借 | |
| A | 通信/电子/网络安全 图书借阅空间（长安校区图书馆2楼） | 03160770 | TN206/5 | 03160770 | 在架可借 | |
| A | 密集书库（长安校区） | 03160772 | TN206/5 | 03160772 | 在架可借 | |
| A | 综合书库（雁塔校区） | 03160769 | TN206/5 | 03160769 | 在架可借 |
| 序号 | 图书条码 | 索书号 | 登录号 | 藏书部门 | 流通状态 | 年卷期 | 装订册 | 装订方式 | 装订颜色 |
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