| 字段 | 字段内容 |
|---|---|
| 001 | 0100011064 |
| 005 | 20040330112050.0 |
| 010 | $a: 7-81077-308-9$d: CNY35.00 |
| 100 | $a: 20031218d2003 em y0chiy0121 ea |
| 101 | $a: chi$c: eng |
| 102 | $a: CN$b: 110000 |
| 105 | $a: f z 000yy |
| 106 | $a: r |
| 200 | $a: SoC设计与测试$A: SoC she ji yu ce shi$d: System-on-a-chip : design and test$f: (美)[R. 雷斯曼]Rochit Rajsuman著$g: 于敦山，盛世敏，田泽译$z: eng |
| 210 | $a: 北京$c: 北京航空航天大学出版社$d: 2003.8 |
| 215 | $a: 210页$c: 图$d: 26cm |
| 304 | $a: 书名原文：System-on-a-chip : design and test |
| 305 | $a: 美国Advantest America R&D Center, Inc.公司授权出版 |
| 314 | $a: R. 雷斯曼[Rochit Rajsuman]，在Colorado State University获得电子工程博士学业位后，在Case Weslern Resere University的计算机工程与科学系执教近7年，著有《Digital Hardware Testing》等。 |
| 330 | $a: 本书分为设计和测试两部分，分别介绍SoC的设计方法和测试方法，在设计部分，介绍SoC设计会遇到的问题和与传统的ASIC设计流程的差别，并介绍逻辑核、存储器核及模拟核的设计和需要注意的问题。 |
| 333 | $a: 读者对象：ASIC设计工程师及系统设计工程师 |
| 510 | $a: System-on-a-chip : design and test$z: eng |
| 606 | $a: 系统设计 |
| 690 | $a: TP368.1$v: 4 |
| 701 | $a: Rajsuman$b: Rochit$4: 著 |
| 702 | $a: 田泽$A: tian ze$4: 译 |
| 801 | $a: CN$b: XIPT$c: 20030330 |
| 905 | $a: XIPT$b: 01351381-3$r: CNY35.00$d: TP368.1$e: 125 |
| 999 | $a: cat2$b: 3$e: 20040019 |
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